檢測流程

1、寄樣

2、免費的初檢

3、報價表

4、兩方確認，簽署保密協(xié)議書，開使試驗

5、7-10個工作日左右完成試驗

6、中后期服務，郵寄檢測報告!

我們的檢測有哪些優(yōu)勢?

產品評估：成分分析，分析成分比例，改善生產缺陷，提升產品品質性能

政府監(jiān)管：工商檢測，市場監(jiān)督，項目投標招標，申請退稅基金等

上市品控：保證自己的產品能順利進入各種電商品臺，商超等

打通市場：增強企業(yè)的認知可信度，擴大市場占有率，提高企業(yè)競爭力，彰顯產品品質

工業(yè)診斷：為您解決工藝、材料中的未知物定性定量分析服務

檢測標準參考

GB/T 26331-2010光學薄膜元件環(huán)境適應性試驗方法

GB/T 26332.1-2018光學和光子學 光學薄膜 第1部分：定義

GB/T 26332.2-2015光學和光子學 光學薄膜 第2部分：光學特性

GB/T 26332.3-2015光學和光子學 光學薄膜 第3部分：環(huán)境適應性

GB/T 26332.4-2015光學和光子學 光學薄膜 第4部分：規(guī)定的試驗方法

GB/T 27583-2011光學功能薄膜 反射眩光性能測試方法

GB/T 33049-2016偏光片用光學薄膜 涂層附著力的測定方法

GB/T 34261-2017偏光片用光學薄膜 抗劃傷的測試

GB/T 40293-2021紅外硫系光學薄膜折射率測試方法

JB/T 11532-2013線性漸變中性密度濾光片

JB/T 13358-2018光學薄膜帶通干涉濾光片

T/C3D 004-2017第4部分：裸眼3D顯示用柱鏡光柵技術規(guī)范

T/CI T/CI006-2021柔性/折疊觸控屏導電硬化薄膜

WJ 1853-2004介質膜規(guī)范

YS/T 718-2009平面磁控濺射靶材 光學薄膜用鈮靶

YS/T 719-2009平面磁控濺射靶材 光學薄膜用硅靶