1、試樣暴露期間，其光學表面應用各種措施防止砂塵的影響，如防塵罩。罩蓋方式應在相關標準中規(guī)定。若試樣在暴露時光學表面不必罩蓋，則應在有關標準中加以說明。
2、試驗箱（室）應具有一定的空間以保證試樣的占有面積不大于試驗箱（室）橫截面積（與空氣流動方向垂直的面積）的50%，體積不超過試驗箱（室）有效體積的50%。
3、礦物砂塵應由邊緣銳利的微粒組成，其中 SiO2質量分數應不小于97%。

光學和光子學儀器砂塵試驗目的是研究試樣的光學、氣候、機械、化學和電氣（包括靜電）等特性受到砂塵影響的變化程度。
健明迪檢測可靠性實驗中心具備各種光學和光子學儀器的環(huán)境試驗能力，為光學和光子學儀器產品提供專業(yè)的砂塵試驗等環(huán)境試驗服務。

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GB/T 12085.1-2022 光學和光子學 環(huán)境試驗方法 第1部分：術語、試驗范圍
ISO 9022-1：2016光學和光子學 環(huán)境試驗方法 第1部分：術語、試驗范圍
GB/T 12085.6-2022 光學和光子學 環(huán)境試驗方法 第6部分：砂塵
ISO 9022-6：2015光學和光子學 環(huán)境試驗方法 第6部分：砂塵
KS B ISO 9022-6：2015光學和光子學 環(huán)境試驗方法 第6部分：砂塵
DIN ISO 9022-6：2015光學和光子學 環(huán)境試驗方法 第6部分：砂塵
BS ISO 9022-6：2015光學和光子學 環(huán)境試驗方法 第6部分：砂塵

所有光學和光子學儀器包括來自其他領域附屬組件（如機械、化學和電子設備）