在綜合作用力條件下，對暴露的試樣進行的試驗，要比前述任何示例環(huán)境條件試驗更為嚴酷。施加的綜合低溫、高溫或溫度變化和碰撞或隨機振動應力條件應與實際使用條件相符合。
壽命試驗時，為了縮短試驗時間，激發(fā)損傷，采用嚴酷程度較高等級的綜合試驗方法，如老化，磨合或環(huán)境應力篩選。 老化，磨合或環(huán)境應力篩選是對光學和光子學儀器以及包含光學部件和電子組件的試驗方法。
在系統(tǒng)關機或開機、運轉(zhuǎn)、貯存、運輸或其他溫度循環(huán)狀態(tài)下，該方法綜合正弦或隨機振動和過壓或電壓不足時運轉(zhuǎn)的試驗。
上述綜合試驗方法適用于早期發(fā)現(xiàn)潛在故障，并在交貨前排除。
綜合試驗方法的選擇并不統(tǒng)一，宜針對產(chǎn)品效果而選擇不同的應力要素。

光學和光子學儀器溫度變化與碰撞振動綜合試驗目的是研究試樣的光學、熱學、化學和電氣等性能受到低溫、高溫或溫度變化與碰撞或隨機振動綜合影響時的變化程度。
健明迪檢測可靠性實驗中心具備各種光學和光子學儀器的環(huán)境試驗能力，為光學和光子學儀器產(chǎn)品提供專業(yè)的低溫、高溫或溫度變化與碰撞或隨機振動試驗等環(huán)境試驗服務。

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GB/T 12085.1-2022 光學和光子學 環(huán)境試驗方法 第1部分：術語、試驗范圍
ISO 9022-22：2016光學和光子學 環(huán)境試驗方法第22部分： 低溫、高溫或溫度變化與碰撞或隨機振動綜合試驗
GB/T 12085.22-2022 光學和光子學 環(huán)境試驗方法 第22部分： 低溫、高溫或溫度變化與碰撞或隨機振動綜合試驗
DIN ISO 9022-22：2016光學和光子學 環(huán)境試驗方法第22部分： 低溫、高溫或溫度變化與碰撞或隨機振動綜合試驗
BS ISO 9022-22：2016光學和光子學 環(huán)境試驗方法第22部分： 低溫、高溫或溫度變化與碰撞或隨機振動綜合試驗
KS B ISO 9022-22：2016光學和光子學 環(huán)境試驗方法第22部分： 低溫、高溫或溫度變化與碰撞或隨機振動綜合試驗

光學儀器、裝有光學零部件的儀器和光學零部件。